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涂层测厚仪的测量原理

日期:2024-05-14 16:15
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摘要:
涂层测厚仪的测量原理        
   一. 磁感应测量原理
         采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。涂层测厚仪利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。
           二. 磁吸力测量原理及测厚仪
         长久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系,这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成涂层测厚仪,只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可进行测量。涂层测厚仪鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,所以磁性测厚仪应用*广。
           三. 电涡流测量原理
         涂层测厚仪高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。

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