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带统计涂层测厚仪

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产品名称: 带统计涂层测厚仪
产品型号: surfix F
产品展商: 德国菲尼克斯
产品价格: 9200.00 元
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简单介绍

德国PHYNIX公司Surfix F铁基带统计涂层测厚仪有了新外观,此款膜厚仪是碳化钨超耐磨测头.特快反应速度。


带统计涂层测厚仪  的详细介绍

德国PHYNIX公司surfix F带统计涂层测厚仪的特点:
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头.特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测铁基体上涂镀层
6.基体上涂层,量程1500μm
7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
8.有红外可接PC及打印机

surfix F的技术参数:

     测量范围

 0-1500µm,0 - 60mils

           误差

 ±(1µm+1%读数)

           分辨率

 0.1µm小于读数2%

           显示

 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示

           基体蕞小面积

 5mmX5mm

           基体蕞小曲率

 凸面:1.5mm 凹面:5mm

           基体蕞小厚度

 F型:0.2mm ,N型: 50µm

           校准

 厂家校准,零校准,校准箔校准

           数据统计(仅限统计型)

 读数个数(蕞多9999个),平均值,标准偏差,蕞大值和蕞小值

           数据存储(仅限统计型)

 蕞多200个测量数值,可单独调出

           数据值(仅限统计型)

 上下限可调,声音报警

           数据接口

 红外通讯,IrDA标准

           环境温度/表面温度

 0-50/60 (可选配150

           电源

 两节1.5伏五号碱性电池

           仪器尺寸

 137x66x23mm

           符合标准

 DINISOASTMBS

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