产品详情
  • 产品名称:铁基统计型高精度膜厚仪

  • 产品型号:Surfix N
  • 产品厂商:其它品牌
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简单介绍:
Surfix N铁基统计型高精度膜厚仪带统计数据功能,测量厚度可达到1500μm.精度±1μm+1%,分辨率0.1μm,红外可接PC及打印机。珠海天创仪器有限公司授权销售德国菲尼克斯全系列膜厚仪。
详情介绍:
Surfix N铁基统计型高精度膜厚仪

数据统计(**统计型)   读数个数(*多9999个),平均值,标准偏差,*大值和*小值
 
数据存储(**统计型)   *多200个测量数值,可单独调出
 
数据值(**统计型)     上下限可调,声音报警

测量范围             0-1500µm,0 - 60mils
 
误差                 ±(1µm+1%读数)
 
分辨率               0.1µm或小于读数的2%
 
显示                 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示
 
基体*小面积         5mmX5mm
 
基体*小曲率         凸面:1.5mm 凹面:5mm
 
基体*小厚度         F型:0.2mm ,N型: 50µm
 
校准                 厂家校准,零校准,校准箔校准
 
数据接口             红外通讯,IrDA标准
 
环境温度/表面温度    0-50℃/60℃ (可选配150℃)
 
电源                 两节1.5伏五号碱性电池
 
仪器尺寸             137x66x23mm
 
符合标准             DIN,ISO,ASTM,BS

特点:
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测有色金属涂镀层
6.基体上涂层,量程1500μm
7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
8.有红外可接PC及打印机
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