產品詳情
簡單介紹：
M1標準磁粉探傷試片符合JB4730.4-2005標準，用於驗證磁粉探傷的綜合性能。一套包含2片。是磁粉探傷的常用備件。
詳情介紹：
M1標準磁粉探傷試片用於檢驗磁粉探傷設備、磁粉、磁懸液的綜合性能（係統靈敏度），及磁化方向、有效磁化範圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規程。
A1型磁粉標準試片按HB/T6065-04標準製作，是磁粉探傷必備的工具。
規格：-15/100
-30/100
-60/100
-7/50
-15/50
-30/50
後三種適用於有曲率的探傷麵。
其他試片有C2型，D1型。
本公司所銷售儀器保修期間若出現非人為的質量問題，造成儀器無法使用，我司將負責免費更換，對於輕微損壞儀器則進行免費維修。
若因用戶使用不當造成的配件損壞或產品超過保修期限，我司負責維修，*適當收取材料費用。
A1型磁粉標準試片按HB/T6065-04標準製作，是磁粉探傷必備的工具。
規格：-15/100
-30/100
-60/100
-7/50
-15/50
-30/50
後三種適用於有曲率的探傷麵。
其他試片有C2型，D1型。
本公司所銷售儀器保修期間若出現非人為的質量問題，造成儀器無法使用，我司將負責免費更換，對於輕微損壞儀器則進行免費維修。
若因用戶使用不當造成的配件損壞或產品超過保修期限，我司負責維修，*適當收取材料費用。